Atomarmikroskop unterrichten


  • Betriebsart:Berührungsmodus, Tippen Sie auf Modus auf
  • Xy Scan -Bereich:20*20um, optional 50*50um, 100*100um
  • Z Scanbereich:2.5um, optional 5um, 10um
  • Scanauflösung:Horizontal 0,2 nm, vertikale 0,05 nm
  • Stichprobengröße:Φ ≤ 90 mm, H ≤ 20 mm
  • Spezifikation

    1. Miniaturisierter und abnehmbares Design, sehr leicht zu tragen und zu unterrichten

    2. Der Lasererkennungskopf und die Probenscanningstufe sind integriert, die Struktur ist sehr stabil und die Anti-Interferenz ist stark

    3.. Präzisions -Sondenpositionierungsgerät, die Einstellung der Laserfleckenausrichtung ist sehr einfach

    4. Die Einzelachse treibt die Probe an, um sich der Sonde automatisch vertikal zu nähern, so dass die Spitze der Nadel senkrecht zur Probe gescannt wird

    5. Die intelligente Nadel-Fütterungsmethode der motorisch kontrollierten Druckpiezoelektrik-Keramikkennung schützt die Sonde und die Probe

    S.

    7. Stoßdämpferverfahren mit Federfederung, einfacher und praktischer, guter schocksicherer Effekt

    8. Integrierter Scanner Nichtlinearer Korrekturbenutzereditor, Nanometer -Charakterisierung und Messgenauigkeit besser als 98%

    Spezifikationen:

    Betriebsart Berührungsmodus, Tippen Sie auf Modus auf
    Optionaler Modus Reibung/Seitenkraft, Amplitude/Phase, magnetische/elektrostatische Kraft
    Kraftspektrumkurve FZ-Kraftkurve, RMS-Z-Kurve
    XY -Scanbereich 20*20um, optional 50*50um, 100*100um
    Z Scanbereich 2.5um, optional 5um, 10um
    Scan -Auflösung Horizontal 0,2 nm, vertikale 0,05 nm
    Probengröße Φ ≤ 90 mm, H ≤ 20 mm
    Probenbühnenreise 15*15 mm
    Optische Beobachtung 4x optisches objektives Objektiv/2,5um Auflösung
    Scangeschwindigkeit 0,6 Hz-30 Hz
    Scanwinkel 0-360 °
    Betriebsumgebung Windows XP/7/8/10 Betriebssystem
    Kommunikationsschnittstelle USB2.0/3.0
    Schockabsorbierende Design Feder suspendiert

    微信截图 _20220420173519_ 副本


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