All-in-one optisches Rasterkraftmikroskop


  • Betriebsart:Touch-Modus, Tap-Modus
  • XY-Scanbereich:50*50um, optional 20*20um, 100*100um
  • Z-Scanbereich:5 um, optional 2 um, 10 um
  • Probengröße:Φ≤68mm, H≤20mm
  • Beispielhafte Etappenreise:25*25mm
  • Optisches Okular:10X
  • Spezifikation

    1.Integriertes Design des optischen metallographischen Mikroskops und des Rasterkraftmikroskops, leistungsstarke Funktionen

    2.Es verfügt sowohl über optische Mikroskop- als auch Rasterkraftmikroskop-Bildgebungsfunktionen, die beide gleichzeitig arbeiten können, ohne sich gegenseitig zu beeinflussen

    3.Gleichzeitig verfügt es über die Funktionen der optischen zweidimensionalen Messung und der dreidimensionalen Messung mit dem Rasterkraftmikroskop

    4. Der Lasererkennungskopf und der Probenscantisch sind integriert, die Struktur ist sehr stabil und die Entstörung ist stark

    5. Präzisionssondenpositionierungsgerät, Laserpunktausrichtungseinstellung ist sehr einfach

    6. Die einachsig angetriebene Probe nähert sich der Sonde automatisch vertikal, sodass die Nadelspitze senkrecht zur Probe abgetastet wird

    7. Die intelligente Nadelzuführungsmethode der motorgesteuerten, unter Druck stehenden piezoelektrischen Keramik-Automatikerkennung schützt die Sonde und die Probe

    8. Optisches Positionierungssystem mit ultrahoher Vergrößerung zur präzisen Positionierung der Sonde und des Probenscanbereichs

    9. Integrierter Benutzereditor für nichtlineare Korrektur des Scanners, Nanometercharakterisierung und Messgenauigkeit besser als 98 %

    Spezifikationen:

    Betriebsart Touch-Modus, Tap-Modus
    Optionaler Modus Reibung/Querkraft, Amplitude/Phase, magnetische/elektrostatische Kraft
    Kraftspektrumkurve FZ-Kraftkurve, RMS-Z-Kurve
    XY-Scanbereich 50*50um, optional 20*20um, 100*100um
    Z-Scanbereich 5 um, optional 2 um, 10 um
    Scanauflösung Horizontal 0,2 nm, vertikal 0,05 nm
    Probengröße Φ≤68mm, H≤20mm
    Beispielhafte Etappenreise 25*25mm
    Optisches Okular 10X
    Optisches Objektiv Apochromatische Planobjektive 5X/10X/20X/50X
    Beleuchtungsmethode LE Kohler Beleuchtungssystem
    Optische Fokussierung Grober manueller Fokus
    Kamera 5MP CMOS-Sensor
    Anzeige 10,1-Zoll-Flachbildschirm mit grafikbezogener Messfunktion
    Scangeschwindigkeit 0,6Hz-30Hz
    Scanwinkel 0-360°
    Betriebsumgebung Betriebssystem Windows XP/7/8/10
    Kommunikationsinterface USB2.0/3.0

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